麻省理工學(xué)院推出氮化鎵與硅芯片3D集成新技術(shù)

作者 | 發(fā)布日期 2025 年 06 月 24 日 14:44 | 分類 氮化鎵GaN

近日,麻省理工學(xué)院(MIT)的研究團隊取得了一項重大技術(shù)突破,開發(fā)出一種創(chuàng)新的制造工藝,能夠?qū)⒏咝阅艿墸℅aN)晶體管與標準硅芯片進行三維集成。這一成果有望顯著提升高頻應(yīng)用(如視頻通話和實時深度學(xué)習(xí))的性能表現(xiàn),為半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展開辟新的道路。

圖片來源:麻省理工學(xué)院新聞

鑒于氮化鎵高昂的成本以及與硅基芯片的兼容性問題,MIT團隊提出了新制造方案,在氮化鎵晶圓表面密集制造微型晶體管,切割成僅240×410微米的獨立單元(稱“dielet”),再通過銅柱低溫鍵合技術(shù),精準嵌入硅互補金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)芯片。

這一新技術(shù)的關(guān)鍵在于“分而治之”的策略。研究團隊開發(fā)了專用工具,利用真空吸附和納米級定位技術(shù),將dielet與硅基板的銅柱接口精確對齊,并在400攝氏度以下完成低溫鍵合。與傳統(tǒng)的金焊工藝相比,銅柱結(jié)合不僅成本更低,而且導(dǎo)電性更優(yōu),同時完全兼容現(xiàn)有的半導(dǎo)體生產(chǎn)線。

在實驗中,團隊制作的功率放大器芯片(面積不足0.5平方毫米)在無線信號強度和能效方面均超越了傳統(tǒng)的硅基器件。這種混合芯片能夠顯著提升智能手機的通話質(zhì)量、帶寬和續(xù)航能力,同時降低系統(tǒng)的發(fā)熱。這種將硅基數(shù)字芯片與氮化鎵優(yōu)勢相結(jié)合的混合芯片,有望在通信、數(shù)據(jù)中心及量子計算等領(lǐng)域引發(fā)一場技術(shù)革命。

IBM的科學(xué)家Atom Watanabe對這一成果給予了高度評價,認為它“重新定義了異質(zhì)集成的邊界,為下一代系統(tǒng)的微型化和能效優(yōu)化樹立了新的標桿”。這一突破不僅展示了氮化鎵在高頻應(yīng)用中的巨大潛力,也為未來半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展提供了新的方向和思路。

(集邦化合物半導(dǎo)體整理)

更多SiC和GaN的市場資訊,請關(guān)注微信公眾賬號:集邦化合物半導(dǎo)體。